Popa, Mihail2016-03-112016-03-112015Popa, Mihail. Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe / Mihail Popa // Tradiţie şi inovare în cercetarea ştiinţifică, Ediţia a 5-a : Materialele Colloquia Professorum din 10 octombrie 2014. – Bălţi. – 2015. – P. 227-231.Spectroscopic technique is very useful for characterising semiconducting materials. We demonstrate here a new method for determination the energy band gap of thin fims from reflectance data.roAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internaționalreflection spectrumabsorbtion spectruma semiconductor band gap widthspectrophotometerspectru de reflecţiespectrul de absorbţieo lăţime de bandă de semiconductoare decalajspectrofotometruArticle