Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe [Articol]
Loading...
Date
2015
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
USARB
Abstract
Spectroscopic technique is very useful for characterising semiconducting materials. We demonstrate here a new method for determination the energy band gap of thin fims from reflectance data.
Description
Keywords
reflection spectrum, absorbtion spectrum, a semiconductor band gap width, spectrophotometer, spectru de reflecţie, spectrul de absorbţie, o lăţime de bandă de semiconductoare decalaj, spectrofotometru
Citation
Popa, Mihail. Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe / Mihail Popa // Tradiţie şi inovare în cercetarea ştiinţifică, Ediţia a 5-a : Materialele Colloquia Professorum din 10 octombrie 2014. – Bălţi. – 2015. – P. 227-231.